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芯片/半导体静电放电测试仪

  • 产品名称:芯片/半导体静电放电测试仪
  • 产品型号:ESD-N08HM
  • 产品厂商:上海讴特电磁技术有限公司
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简单介绍
芯片/半导体静电放电测试仪可以对小型电子器件(如各类封装方式的集成电路、元器件、IC电路等)实现人体模式的静电放电过程,可用以检测这些器件抵抗静电放电的抗干扰能力。

芯片/半导体静电放电测试仪

的详细介绍

型号

        ESD-N08HM

n 功能作用

        可以对小型电子器件(如各类封装方式的集成电路、元器件、IC电路等)实现人体模式的静电放电过程,用以检测这些器件抵抗静电放电的抗干扰能力

应用领域

        金属接触式芯片卡、接触式数据存储装置、大规模集成电路、半导体发光器件、RLC器件、电子芯片、功能模块等。

符合标准

       符合ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2EIA/JESD22-A114-B、EIA/JESD22-A115-A标准和相关产品标准等。

技术特点

1、触摸屏控制

2、高压过压、过流、短路保护

3、可自行判断高压输出异常


技术参数

输出电压

人体模式

机器模式

0.1~8kV ±5

100~800V ±5

输出极性

正、负

触发模式

单次

单次放电

计数

按设定的放电次数放电

其它

主机自触发

放电模式

人体模式或机器模式

放电间隔

1~99s

放电次数

1~999

放电电容

100pF ±10

200pF±10

放电电阻

1500Ω ±10

0Ω ±10

放电波形

符合ANSI/ESD STM5.1ANSI/ESD STM5.2

EIA/JESD22-A114-BEIA/JESD22-A115-A标准

使用环境

温度:15°C~35°C相对湿度10%~75%

系统电源

AC220±10%,50/60Hz,约300W



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